Si(111)解理面氧吸附后Si L<sub>2,3</sub>VV俄歇谱形的分析
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物理学报  1985, Vol. 34 Issue (1): 32-38
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Si(111)解理面氧吸附后Si L2,3VV俄歇谱形的分析
徐至中1, 戴道宣1, 邹惠良2
(1)复旦大学现代物理研究所; (2)上海计量局测试技术研究所
THE LINE SHAPE ANALYSIS FOR Si L2,3 VV AUGER SPECTRA OF CLEAVED Si (111) SURFACES WITH OXYGEN ADSORBED
XU ZHI-ZHONG1, DAI DAO-XUAN1, ZOU HUI-LIANG2
(1)复旦大学现代物理研究所; (2)上海计量局测试技术研究所

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