物理学报
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物理学报  2010, Vol. 59 Issue (10): 7096.      DOI: 10.7498/aps.59.7096
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采用Si薄膜的光子计数成像系统性能的研究
刘永安1, 赵宝升1, 赵菲菲2, 胡慧君2
(1)中国科学院西安光学精密机械研究所,瞬态光学与光子技术国家重点实验室,西安 710119; (2)中国科学院西安光学精密机械研究所,瞬态光学与光子技术国家重点实验室,西安 710119,中国科学院研究生院,北京 100039
Properties of photon counting imaging system with Si thin films
Liu Yong-An1, Zhao Bao-Sheng1, Zhao Fei-Fei2, Hu Hui-Jun2
(1)State Key Laboratory of Transient Optics and Photonics, Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi' an 710119, China; (2)State Key Laboratory of Transient Optics and Photonics, Xi'an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi' an 710119, China, Graduate School of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100039, China


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