基于1/<em>f </em>噪声变化的pn结二极管辐射效应退化机理研究
物理学报
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物理学报  2012, Vol. 61 Issue (12): 127808     doi:10.7498/aps.61.127808
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基于1/f 噪声变化的pn结二极管辐射效应退化机理研究
孙鹏, 杜磊, 何亮, 陈文豪, 刘玉栋, 赵瑛
西安电子科技大学技术物理学院, 陕西西安 710071
Radiation degradation mechanism of pn-junction diode based on 1/f noise variation
Sun Peng, Du Lei, He Liang, Chen Wen-Hao, Liu Yu-Dong, Zhao Ying
School of Technical Physics, Xidian University, Xi’an 710071, China

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