表面悬挂键导致硅纳米线掺杂失效机理的第一性原理研究
物理学报
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物理学报  2012, Vol. 61 Issue (15): 153102     doi:10.7498/aps.61.153102
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表面悬挂键导致硅纳米线掺杂失效机理的第一性原理研究
梁培1, 刘阳1, 王乐1 2, 吴珂1 2, 董前民1, 李晓艳1
1. 中国计量学院光学与电子科技学院, 杭州 310018;
2. 浙江大学信息学部, 杭州 310018
Investigation of the doping failure induced by DB in the SiNWs using first principles method
Liang Pei1, Liu Yang1, Wang Le1 2, Wu Ke1 2, Dong Qian-Min1, Li Xiao-Yan1
1. College of Optical and Electronic Technology, China Jiliang University, Hangzhou 310018, China;
2. Faculty of Engineering, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China

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