基于表面势的氢化非晶硅薄膜晶体管直流特性研究
物理学报
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物理学报  2012, Vol. 61 Issue (23): 237104     doi:10.7498/aps.61.237104
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基于表面势的氢化非晶硅薄膜晶体管直流特性研究
陈晓雪, 姚若河
华南理工大学电子与信息学院, 广州 510640
DC characteristic research based on surface potential for a-Si:H thin-film transistor
Chen Xiao-Xue, Yao Ruo-He
School of Electronic and Information Engineering, South China University of Technology, Guangzhou 510640, China

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