用Pendell?sung条纹研究硅单晶中微缺陷
物理学报
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物理学报  1994, Vol. 43 Issue (1): 78-83
凝聚物质:结构、热学和力学性质 当期目录| 下期目录| 过刊浏览| 高级检索     
用Pendell?sung条纹研究硅单晶中微缺陷
李明, 麦振洪, 崔树范
中国科学院物理研究所
CHARACTERIZATION OF MICRO-DEFECTS IN SILICON SINGLE CRYSTALS BY ANALYZING THE PENDELL?SUNG FRINGES
LI MING, MAI ZHEN-HONG, CUI SHU-PAN
中国科学院物理研究所

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