薄膜应力测定的X射线掠射法
物理学报
引用检索 快速检索
物理学报  1994, Vol. 43 Issue (8): 1295-1300
凝聚物质:结构、热学和力学性质 当期目录| 下期目录| 过刊浏览| 高级检索     
薄膜应力测定的X射线掠射法
徐可为, 高润生, 于利根, 何家文
西安交通大学金属材料强度国家重点实验室
THIN FILM STRESS EVALUATION BY A GLANCING X-RAY BEAM
XU KE-WEI, GAO RUN-SHENG, YU LI-GEN, HE JIA-WEN
西安交通大学金属材料强度国家重点实验室

版权所有 ©  物理学报
地址:北京市603信箱,《物理学报》编辑部 邮编:100190
电话:010-82649294,82649829,82649863   E-mail:apsoffice@iphy.ac.cn
网络系统维护电话:010-62662699-1; 技术支持邮箱 linjl@magtech.com.cn