用四探针法测量矩形半导体电阻率时的修正函数

宿昌厚

doi:10.7498/aps.19.370

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用四探针法测量矩形半导体电阻率时的修正函数

宿昌厚

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用四探针法测量矩形半导体电阻率时的修正函数

宿昌厚

物理学报, 1963, 19(6): 370-383.

doi: 10.7498/aps.19.370

ПОПРАВОЧНЫЕ ФУНКЦИИ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ УДЕЛЬнОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ЧЕТЫРЕХЗОНДОВЫМ МЕТОДОМ НА ОБРАЗЦЕ ПОЛУПРОВОДНИКА В ФОРМЕ ПРЯМОУГОЛЬНИКА

Acta Phys. Sin., 1963, 19(6): 370-383.

doi: 10.7498/aps.19.370

摘要

本文对于应用四探针法测量矩形半导体电阻率问题进行理论分析,在同时考虑样品有限长、宽、厚三个几何尺寸对测量过程的影响的条件下导出修正函数的一般公式,并把根据这些公式计算的一些修正因子列成数据表。指出了为减小电阻率的测量误差,除了提高测量设备的精确度和改进测量技术外,正确的选择修正因子也是一个重要因素。
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