物理学报
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总剂量辐照对热载流子效应的影响研究
何玉娟1,2,章晓文2,刘远2
1. 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室
2. 工业和信息化部电子第五研究所
Total Dose Dependence of Hot Carrier Injection Effect in the NMOS Devices


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