分子束外延GaN薄膜的X射线光电子能谱和俄歇电子能谱研究
物理学报
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物理学报  2001, Vol. 50 Issue (12): 2429-2433
凝聚物质:结构、热学和力学性质 当期目录| 下期目录| 过刊浏览| 高级检索     
分子束外延GaN薄膜的X射线光电子能谱和俄歇电子能谱研究
徐卓1, 陈光德2, 苑进社3, 齐鸣4, 李爱珍4
(1)西安交通大学电子材料研究所,西安710049; (2)西安交通大学应用物理系,西安710049; (3)西安交通大学应用物理系,西安710049,西安理工大学应用物理系,西安710048; (4)中国科学院上海冶金研究所,上海200050
XPS AND AES INVESTIGATION OF GaN FILMS GROWN BY MBE
XU ZHUO1, CHEN GUANG-DE2, YUAN JIN-SHE3, QI MING4, LI AI-ZHEN4
(1)西安交通大学电子材料研究所,西安710049; (2)西安交通大学应用物理系,西安710049; (3)西安交通大学应用物理系,西安710049,西安理工大学应用物理系,西安710048; (4)中国科学院上海冶金研究所,上海200050

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