物理学报
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2012, Vol. 61(22): 228502-228502    DOI: 10.7498/aps.61.228502
基于栅绝缘层表面修饰的有机场效应晶体管迁移率的研究进展
石巍巍1 2, 李雯1, 仪明东1, 解令海1, 韦玮1, 黄维1
1. 南京邮电大学信息材料与纳米技术研究院, 有机电子与信息显示国家重点实验室培育基地, 南京 210046;
2. 南京邮电大学信息材料与光电工程学院, 南京 210046
收稿日期 2012-03-05  修回日期 2012-06-14
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