搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

用面垒探测器测定n型硅中少数载流子的扩散长度

唐璞山 贺明霞 陈佐禹 王楚

用面垒探测器测定n型硅中少数载流子的扩散长度

唐璞山, 贺明霞, 陈佐禹, 王楚
PDF
导出引用
计量
  • 文章访问数:  2797
  • PDF下载量:  426
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1962-08-06
  • 刊出日期:  2005-08-05

用面垒探测器测定n型硅中少数载流子的扩散长度

  • 1. 复旦大学物理系

摘要: 当α粒子穿入Au-Si面垒探测器的扩散区时,其产生的非平衡少数载流于扩散到势垒边界而被收集,因此在探测器两端有一输出脉冲。本文从理论上计算了扩散区中的收集效率,获得了收集效率和扩散长度的函数关系。另外将实验上测定的收集效率与理论加以比较,从而确定少数载流子的扩散长度。

English Abstract

参考文献 (1)

目录

    /

    返回文章
    返回