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二元合金成份的无标样X光能谱定量分析

吴自勤 高巧君 葛森林

二元合金成份的无标样X光能谱定量分析

吴自勤, 高巧君, 葛森林
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出版历程
  • 收稿日期:  1979-04-02
  • 刊出日期:  2005-07-29

二元合金成份的无标样X光能谱定量分析

  • 1. 北京大学物理系

摘要: 一般用电子探针对合金成份进行定量分析时都用标样进行对比。本文提出了一个不用标样的二元合金成份的定量分析方法。利用扫描电子显微镜-X光能谱分析装置同时测定二元合金(Cu-Ga,GaAs)中二元素的Ka光子数比值后,由简化的入射电子能量损失公式和X光激发截面公式并考虑了二次荧光效应后,可计算出二元合金的成份。当入射电子的过电压保持在2—3时,得到和实际成份一致的结果。利用上述简化模型对文献中不同纯元素特征X光的“仪器灵敏度”进行了计算和讨论。

English Abstract

参考文献 (1)

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