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中子非弹性散射对Bi12GeO20和Bi12SiO20旋声性的研究

张泰永 施仲坚 陶昉 林泉 牛世文 勾成

中子非弹性散射对Bi12GeO20和Bi12SiO20旋声性的研究

张泰永, 施仲坚, 陶昉, 林泉, 牛世文, 勾成
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出版历程
  • 收稿日期:  1985-03-07
  • 刊出日期:  2005-07-14

中子非弹性散射对Bi12GeO20和Bi12SiO20旋声性的研究

  • 1. (1)中国科学技术大学物理系; (2)中国科学院声学研究所; (3)中国科学院物理研究所; (4)中国科学院原子能研究所

摘要: 通过用中子非弹性散射测量旋声晶体高对称方向的横声学支声子色散曲线的劈裂,从三个方面研究了同构异质晶体Bi12GeO20和Bi12SiO20的旋声特性。值得注意的是,沿〈111〉方向传播的左旋、右旋圆偏振声子具有不同的衰减。其中传播速度快的圆偏振声子衰减较大,该结论为这两种晶体所证实,这是在晶体旋声性研究中首次观察到的现象。实验还直接确定了衰减较大的这支声子的寿命约为2×10-11S。

English Abstract

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