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由隧道电子谱微分电导极大值确定超导体能隙的新方法

李宏成 王瑞兰 王平书 管惟炎

由隧道电子谱微分电导极大值确定超导体能隙的新方法

李宏成, 王瑞兰, 王平书, 管惟炎
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出版历程
  • 收稿日期:  1985-03-18
  • 刊出日期:  2005-07-14

由隧道电子谱微分电导极大值确定超导体能隙的新方法

  • 1. 中国科学院物理研究所

摘要: 本文给出一种确定超导体能隙的新方法,由隧道理论计算出Vmax/kT与Δ/kT的关系曲线,微分电导极大值电压Vmax由隧道电子谱测定,由Vmax/kT值及上述曲线很容易计算出能隙Δ值。这种方法很简单,而准确度几乎接近于曲线拟合法。

English Abstract

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