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用双晶衍射仪作小角散射测量

魏铭鉴

用双晶衍射仪作小角散射测量

魏铭鉴
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出版历程
  • 收稿日期:  1989-02-28
  • 刊出日期:  1990-01-05

用双晶衍射仪作小角散射测量

  • 1. 武汉工业大学,武汉,430070

摘要: 双晶衍射仪的分辨本领高,测量范围小,最适合作小角散射测量。可是长期以来都认为它的背底较重,能掩盖小角散射的讯号而未能普遍应用。本文指出这种背底主要来自两个方面:一是第二晶体的荧光;一是晶体摆动曲线的尾部效应。前者可以用波高分析器来扣除。本文提出一种对尾部效应的扣除方法。经实测验证,这个方法是满意的。

English Abstract

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