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ZnO压敏陶瓷中的本征缺陷

傅刚 陈志雄 石滨

ZnO压敏陶瓷中的本征缺陷

傅刚, 陈志雄, 石滨
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出版历程
  • 收稿日期:  1995-01-23
  • 刊出日期:  1996-05-20

ZnO压敏陶瓷中的本征缺陷

  • 1. 广州师范学院物理系,广州510400
    基金项目: 

    国家自然科学基金资助的课题

摘要: 研究了ZnO-Sb2O3-BaO系和ZnO-Bi2O3-Sb2O3-BaO系压敏陶瓷的介电损耗因子D(tanδ)与频率f的关系。发现不含Bi2O3试样在室温附近出现一新的损耗峰,峰值频率在2MHz左右,对应的电子陷阱能级为0.18eV,分析认为是由于本征缺陷Zni所致。设想Bi离子对Zni

English Abstract

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