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SrTiO3基片的晶体质量及表面粗糙结构的X射线研究

李超荣 朱爱军 麦振洪 戴道扬

SrTiO3基片的晶体质量及表面粗糙结构的X射线研究

李超荣, 朱爱军, 麦振洪, 戴道扬
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出版历程
  • 收稿日期:  1997-02-01
  • 修回日期:  1997-03-06
  • 刊出日期:  1997-09-20

SrTiO3基片的晶体质量及表面粗糙结构的X射线研究

  • 1. (1)中国科学院凝聚态物理中心;中国科学院物理研究所; (2)中国科学院物理研究所;中国科学院微重力实验室
    基金项目: 

    国家自然科学基金

摘要: 用X射线双晶衍射摇摆曲线以及双晶X射线形貌对两个SrTiO3基片的单晶质量进行了对比研究,并用X射线掠入射镜面反射及漫散射研究了它们的表面粗糙结构.结果表明,两个SrTiO3基片中都存在镶嵌缺陷,其中一个样品的晶体质量相对较高.两个样品的表面粗糙结构相差很大,包括均方根粗糙度σ和横向相关长度ξ.σ分别为(0.5±0.1)和(1.3±0.1)nm,ξ分别为(1200±200)和(300±20)nm.样品的表面粗糙将增加X射线的漫散射强度而降低镜面反射的强度.晶体质

English Abstract

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