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微波铁氧体损耗的晶粒表层自旋波共振模型

韩志全

微波铁氧体损耗的晶粒表层自旋波共振模型

韩志全
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出版历程
  • 收稿日期:  1999-07-28
  • 刊出日期:  2006-09-06

微波铁氧体损耗的晶粒表层自旋波共振模型

  • 1. 中国西南应用磁学研究所,绵阳 621000

摘要: 考虑了晶粒表层中由杂质和应力引起的感生单轴各向异性场,由进动方程解出了晶粒表层中的自旋波体征频率.通过比较晶粒内部和表层的自旋波频谱上、下限,说明了非共振有效线宽ΔHeff来源于晶粒表层的自旋波共振激发.提出的多晶内禀磁化率χi+由晶粒内部的χb+和晶粒表层的χs+所组成,得出了非共振ΔHeff与χs″+及晶粒表层体积分数Vs成正比的关系式.解释了ΔHeff与晶粒尺寸及气孔率的关系.阐明了场移的物理机制,理论与实验相符.

English Abstract

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