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孔隙率及晶粒尺寸对多孔PZT陶瓷介电和压电性能的影响及机理研究

曾 涛 董显林 毛朝梁 梁瑞虹 杨 洪

孔隙率及晶粒尺寸对多孔PZT陶瓷介电和压电性能的影响及机理研究

曾 涛, 董显林, 毛朝梁, 梁瑞虹, 杨 洪
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出版历程
  • 收稿日期:  2005-11-25
  • 修回日期:  2005-12-14
  • 刊出日期:  2006-03-05

孔隙率及晶粒尺寸对多孔PZT陶瓷介电和压电性能的影响及机理研究

  • 1. 中国科学院上海硅酸盐研究所,上海 200050

摘要: 采用添加造孔剂的方法制备多孔锆钛酸铅(PZT)陶瓷,并研究了孔隙率和晶粒尺寸对多孔PZT陶瓷介电和压电性能的影响及机理.研究表明:孔隙率的增加降低了多孔PZT陶瓷的介电常数,提高了静水压优值,并证明在一定条件下孔隙率与介电常数关系可由Okazaki经验公式及Banno模型预测;晶粒尺寸增加,多孔PZT陶瓷的介电常数、压电系数和优值增加,并可用Okazaki空间电荷理论解释晶粒尺寸对试样介电和压电性能的影响.对于添加重量百分数为10%造孔剂的多孔PZT陶瓷,当烧结温度为1300℃时,孔隙率为34%,d

English Abstract

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