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用于Z-pinch诊断的266nm激光探针分幅阴影成像系统

杨建伦 徐荣昆 李林波 许泽平 钟耀华 王 真 章法强

用于Z-pinch诊断的266nm激光探针分幅阴影成像系统

杨建伦, 徐荣昆, 李林波, 许泽平, 钟耀华, 王 真, 章法强
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出版历程
  • 收稿日期:  2006-02-23
  • 修回日期:  2006-03-24
  • 刊出日期:  2006-11-20

用于Z-pinch诊断的266nm激光探针分幅阴影成像系统

  • 1. (1)核物理与化学研究所,绵阳 621900; (2)清华大学工程物理系,北京 100084;核物理与化学研究所,绵阳 621900
    基金项目: 

    国家自然科学基金重点项目(批准号:10035030)资助的课题.

摘要: 采用Nd-YAG激光器的四倍频激光(266nm)设计了激光探针分幅阴影成像系统,该系统具有时间分辨率和收光效率高,测量范围大,可有效屏蔽可见光干扰的优点,在钨丝阵实验中成功获得晚期内爆等离子体的分布图像.对系统结构和性能参数做了介绍,对测量结果进行了讨论.

English Abstract

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