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基于多层膜偏振元件的软X射线磁光Faraday偏转测量

赵 佳 王占山 朱京涛 张 众 鄢 芬 崔明启 陈 凯 孙立娟 席识博 周克瑾 郑 雷 赵屹东

基于多层膜偏振元件的软X射线磁光Faraday偏转测量

赵 佳, 王占山, 朱京涛, 张 众, 鄢 芬, 崔明启, 陈 凯, 孙立娟, 席识博, 周克瑾, 郑 雷, 赵屹东
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出版历程
  • 收稿日期:  2007-10-08
  • 修回日期:  2007-10-30
  • 刊出日期:  2008-05-28

基于多层膜偏振元件的软X射线磁光Faraday偏转测量

  • 1. (1)北京工商大学,北京 100037; (2)同济大学精密光学工程技术研究所,物理系,上海 200092; (3)中国科学院高能物理研究所,北京 100049
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:10275078,10435050)资助的课题.

摘要: 在北京同步辐射装置(BSRF)的3W1B软X射线光束线上利用自行研制的同步辐射软X射线综合偏振测量装置对Ni的M2,3边附近(60—70 eV)进行了软X射线磁光(magneto-optical)法拉第效应(Faraday effect)的偏转测量,实验装置主要由起偏器,检偏器,样品架,圆形钕铁硼永磁铁和MCP探测器组成,偏振元件(起偏元件和检偏元件)均采用反射式非周期性Mo/Si宽带多层膜.实验采用反射起偏和反射检偏的模式,得到一系列能量范围在60—70 eV间的法拉第偏转角结果,

English Abstract

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