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Tm:Y2SiO5晶体的生长和光谱性质研究

徐晓东 赵志伟 徐文伟 吴 峰 徐 军 王晓丹

Tm:Y2SiO5晶体的生长和光谱性质研究

徐晓东, 赵志伟, 徐文伟, 吴 峰, 徐 军, 王晓丹
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出版历程
  • 收稿日期:  2007-07-03
  • 修回日期:  2008-04-01
  • 刊出日期:  2008-08-20

Tm:Y2SiO5晶体的生长和光谱性质研究

  • 1. (1)中国科学院上海光学精密机械研究所,上海 201800; (2)中国科学院上海光学精密机械研究所,上海 201800;苏州科技学院应用物理系,苏州 215009

摘要: 采用中频感应提拉法生长了高质量的Tm:Y2SiO5(Tm:YSO)晶体,测定了晶体的晶格常数和分凝系数.运用劳厄照相法确定了单斜晶系Tm:YSO晶体的三个偏振轴〈010〉,D1和D2,在室温下测量了三个偏振轴方向的吸收光谱、荧光光谱和荧光寿命,计算了晶体吸收峰的吸收线宽和吸收截面.研究发现,相对于其他两个偏振轴方向,D1方向在790nm处出现较强的吸收峰,

English Abstract

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