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单壁碳纳米管电子输运特性的稳定性分析

梅龙伟 张振华 丁开和

单壁碳纳米管电子输运特性的稳定性分析

梅龙伟, 张振华, 丁开和
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  • 基于变形单壁碳纳米管能量色散关系,计算了碳纳米管最低导带的电子速度及有效质量随形变系数变化的各种曲线,以此推测碳纳米管输运性质的稳定性问题.计算结果表明:对于特定类型的碳纳米管,只当其形变发生在某特定方向、且处于低形变(形变系数ε≤002 )区时,电子平均速度vmean及平均有效质量m*mean随形变改变才会很小(相对改变量≤2%),这意味着此时的碳纳米管低偏压电子输运性能是基本稳定的.而其他形变情形,电子平均速度vmean或电子平均有效质量m*mean或两者随形变变化明显,甚至有跃变,这意味着其低偏压电子输运性能是不稳定的,甚至极不稳定.
    • 基金项目: 国家自然科学基金(批准号:60771059 ),湖南省自然科学基金(批准号:08JJ4002),湖南省优秀博士论文基金(批准号:200526 )和湖南省教育厅科技项目(批准号:08A005)资助的课题.
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出版历程
  • 收稿日期:  2008-07-13
  • 修回日期:  2008-08-15
  • 刊出日期:  2009-03-20

单壁碳纳米管电子输运特性的稳定性分析

  • 1. 长沙理工大学物理与电子科学学院,长沙 410076
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:60771059 ),湖南省自然科学基金(批准号:08JJ4002),湖南省优秀博士论文基金(批准号:200526 )和湖南省教育厅科技项目(批准号:08A005)资助的课题.

摘要: 基于变形单壁碳纳米管能量色散关系,计算了碳纳米管最低导带的电子速度及有效质量随形变系数变化的各种曲线,以此推测碳纳米管输运性质的稳定性问题.计算结果表明:对于特定类型的碳纳米管,只当其形变发生在某特定方向、且处于低形变(形变系数ε≤002 )区时,电子平均速度vmean及平均有效质量m*mean随形变改变才会很小(相对改变量≤2%),这意味着此时的碳纳米管低偏压电子输运性能是基本稳定的.而其他形变情形,电子平均速度vmean或电子平均有效质量m*mean或两者随形变变化明显,甚至有跃变,这意味着其低偏压电子输运性能是不稳定的,甚至极不稳定.

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