搜索

文章查询

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

复合缺陷型电磁帯隙谐振腔

柏宁丰 洪玮 孙小菡

复合缺陷型电磁帯隙谐振腔

柏宁丰, 洪玮, 孙小菡
PDF
导出引用
导出核心图
计量
  • 文章访问数:  3025
  • PDF下载量:  667
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2009-11-27
  • 修回日期:  2010-08-17
  • 刊出日期:  2011-01-15

复合缺陷型电磁帯隙谐振腔

  • 1. 东南大学电子器件与系统可靠性研究中心,南京 210096

摘要: 提出了一种复合缺陷型电磁带隙(EBG)谐振腔,通过对该EBG结构的带隙分析,指出该谐振腔可在大尺寸下实现单模工作,提供更大的容差空间,且具有高Q值.数值模拟结果表明,基于复合缺陷EBG结构构成的谐振腔,单模工作条件可以放宽到外圈金属柱直径与周期之比为0.6,内圈金属柱直径与周期比为0.9;而传统中心缺陷型EBG结构的小于0.3.

English Abstract

参考文献 (13)

目录

    /

    返回文章
    返回