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光学元件群延迟的直接测量

邓玉强 孙青 于靖

光学元件群延迟的直接测量

邓玉强, 孙青, 于靖
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出版历程
  • 收稿日期:  2010-01-04
  • 修回日期:  2010-05-08
  • 刊出日期:  2011-01-05

光学元件群延迟的直接测量

  • 1. 中国计量科学研究院光学所,北京 100013
    基金项目: 

    国家科技支撑计划(批准号:2006BAF06B05)和中国计量科学研究院基本科研业务费(批准号:AKY0904,AKY0748)资助的课题.

摘要: 提出了一种测量群延迟的新方法,利用白光干涉仪产生的光谱干涉,通过时间频率联合分析直接得出群延迟,减小了传统相位差分方法产生的误差,并通过测量结果减去系统背景,进一步提高了光学元件色散测量的准确度. 该方法适合于具有复杂色散光学元件群延迟和色散的准确测量,也适合于慢光器件群速度延迟的测量.

English Abstract

参考文献 (11)

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