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真空热退火温度对单相Ag2O薄膜微结构和光学性质的影响

张增院 郜小勇 冯红亮 马姣民 卢景霄

真空热退火温度对单相Ag2O薄膜微结构和光学性质的影响

张增院, 郜小勇, 冯红亮, 马姣民, 卢景霄
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出版历程
  • 收稿日期:  2010-05-27
  • 修回日期:  2010-06-30
  • 刊出日期:  2011-03-15

真空热退火温度对单相Ag2O薄膜微结构和光学性质的影响

  • 1. 郑州大学物理工程学院材料物理教育部重点实验室,郑州 450052
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:60807001),国家重点基础研究发展计划(973)项目(批准号:2011CB201605)和河南省教育厅自然科学研究计划项目(批准号: 2010A140017)资助的课题.

摘要: 利用直流磁控反应溅射技术在玻璃衬底上沉积了单相Ag2O薄膜,并采用真空热退火对单相Ag2O薄膜在不同热退火温度 (T A) 下进行了1 h热处理.利用X射线衍射谱、扫描电子显微镜和分光光度计研究了 T A对单相Ag2O薄膜微结构和光学性质的影响.研究结果表明, TA= 300 ℃ 时Ag2O薄膜中开始出现Ag纳米颗粒,且随着 T A的升高薄膜中Ag的含量

English Abstract

参考文献 (13)

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