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电子器件散粒噪声测试方法研究

陈文豪 杜磊 何亮 陈华 孙鹏 王婷岚 庄奕琪 包军林

电子器件散粒噪声测试方法研究

陈文豪, 杜磊, 何亮, 陈华, 孙鹏, 王婷岚, 庄奕琪, 包军林
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  • 本文分析了超导量子干涉器(SQUID)和超导-绝缘-超导(SIS)约瑟夫森结散粒噪声测试方法的应用局限性,提出了常规器件的散粒噪声测试方案.针对常规电子器件散粒噪声特性,研究了噪声测试基本条件,并建立了低温测试系统.通过采用双层屏蔽结构和超低噪声前置放大器,实现了较好的电磁干扰屏蔽和极低的背景噪声.在10 K温度下对常规二极管散粒噪声进行了测试,通过理论和测试结果对比分析,验证了测试系统的准确和可信性.
    • 基金项目: 国家重点基础研究发展计划(973计划)(批准号:2010CB631002)资助的课题.
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出版历程
  • 收稿日期:  2010-09-06
  • 修回日期:  2011-01-11
  • 刊出日期:  2011-05-15

电子器件散粒噪声测试方法研究

  • 1. (1)西安电子科技大学技术物理学院,西安 710071; (2)西安电子科技大学微电子学院,西安 710071
    基金项目: 

    国家重点基础研究发展计划(973计划)(批准号:2010CB631002)资助的课题.

摘要: 本文分析了超导量子干涉器(SQUID)和超导-绝缘-超导(SIS)约瑟夫森结散粒噪声测试方法的应用局限性,提出了常规器件的散粒噪声测试方案.针对常规电子器件散粒噪声特性,研究了噪声测试基本条件,并建立了低温测试系统.通过采用双层屏蔽结构和超低噪声前置放大器,实现了较好的电磁干扰屏蔽和极低的背景噪声.在10 K温度下对常规二极管散粒噪声进行了测试,通过理论和测试结果对比分析,验证了测试系统的准确和可信性.

English Abstract

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