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利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al2O3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响

卜文斌 范勇 殷景华 刘晓旭 程伟东 吴忠华

利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al2O3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响

卜文斌, 范勇, 殷景华, 刘晓旭, 程伟东, 吴忠华
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出版历程
  • 收稿日期:  2010-02-08
  • 修回日期:  2010-08-18
  • 刊出日期:  2011-05-15

利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al2O3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响

  • 1. (1)哈尔滨理工大学应用科学学院,哈尔滨 150080; (2)哈尔滨理工大学应用科学学院,哈尔滨 150080;工程电介质及其应用技术教育部重点实验室,哈尔滨 150080; (3)哈尔滨理工大学应用科学学院,哈尔滨 150080;黑龙江科技学院实训中心,哈尔滨 150027; (4)中国科学院高能物理研究所同步辐射室,北京 100049
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:50677009,51077028)和黑龙江省自然科学基金(批准号:A201006)资助的课题.

摘要: 采用溶胶-凝胶方法制备无机纳米杂化聚酰亚胺(PI),应用同步辐射小角X射线散射(SAXS)方法研究不同组分杂化PI薄膜的界面特性与分形特征.研究结果表明:散射曲线不遵守Porod定理,形成负偏离,说明薄膜中有机相与Al2O3纳米颗粒间存在界面层,界面层厚度在0.54 nm到1.48 nm范围内;随无机纳米组分增加,界面层厚度增加,有机相与无机相作用变强;无机纳米颗粒同时具有质量分形和表面分形特征,其分布、集结是一种非线性动力学过程;随组分增加,其质量分形维数降低

English Abstract

参考文献 (25)

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