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用于频域方法测量超短电子束纵向分布的Kramers-Krnig变换研究

吴岱 刘文鑫 唐传祥 黎明

用于频域方法测量超短电子束纵向分布的Kramers-Krnig变换研究

吴岱, 刘文鑫, 唐传祥, 黎明
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出版历程
  • 收稿日期:  2010-08-24
  • 修回日期:  2010-12-27
  • 刊出日期:  2011-04-05

用于频域方法测量超短电子束纵向分布的Kramers-Krnig变换研究

  • 1. 清华大学工程物理系, 北京 100084;
  • 2. 清华大学粒子技术与辐射成像教育部重点实验室, 北京 100084;
  • 3. 中国工程物理研究院应用电子学研究所, 绵阳 621900
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:10905032)资助的课题.

摘要: Kramers-Krnig(K-K)变换方法被广泛地应用于频域测量中还原超短电子束团分布,成为分析电子束团形状、长度等参量的有效工具. 研究发现,利用该方法分析电子束参量时,自相干曲线基底的选择、低频损耗与高频截止及插值外推位置的选择,对束团参量有重要的影响. 以清华大学加速器实验平台采用相干渡越辐射测试束团长度为例,分析了上述参量的选取对测量结果的影响,讨论了选择K-K变换的关键物理参量的方法.

English Abstract

参考文献 (21)

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