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铝纳米晶的正电子湮没研究

李裕 罗江山 王柱 杨蒙生 邢丕峰 易勇 雷海乐

铝纳米晶的正电子湮没研究

李裕, 罗江山, 王柱, 杨蒙生, 邢丕峰, 易勇, 雷海乐
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  • 采用自悬浮定向流-真空热压法, 在不同压强下制得铝纳米晶材料, 并利用X射线衍射(XRD)和正电子湮没寿命谱(PALS)分析手段对铝纳米晶的结构和微观缺陷进行表征. XRD分析表明: 所制备的铝纳米晶的晶粒度为48 nm. PALS分析表明: 铝纳米晶的微观缺陷主要为类空位以及空位团, 而微孔洞很少; 短寿命τ1, 中间寿命τ2以及其对应的强度I1, I2随压强变化而呈现阶段性变化; 压制压强(P)低于0.39 GPa时制得的纳米晶空位团随压强的增加而逐渐转变为类空位; 0.39 GPa ≤ P≤ 0.72 GPa 时, 各类缺陷发生消除; P≥ 0.72 GPa时, 各类缺陷进一步发生消除. 随压强的提高, 铝纳米晶的密度增加, 其显微硬度也明显增高.
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    Gleiter H 1989 Prog. Mater. Sci. 33 223

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    Zeng X C 2012 M. S. Thesis ( Wuhan: Huazhong University of Science and Technology) (in Chinese) [曾小川 2012 硕士学位论文 (武汉: 华中科技大学)]

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出版历程
  • 收稿日期:  2014-06-26
  • 修回日期:  2014-08-16
  • 刊出日期:  2014-12-05

铝纳米晶的正电子湮没研究

  • 1. 中国工程物理研究院激光聚变研究中心, 绵阳 621900;
  • 2. 西南科技大学材料科学与工程学院, 绵阳 621010;
  • 3. 武汉大学物理科学与技术学院, 武汉 430070

摘要: 采用自悬浮定向流-真空热压法, 在不同压强下制得铝纳米晶材料, 并利用X射线衍射(XRD)和正电子湮没寿命谱(PALS)分析手段对铝纳米晶的结构和微观缺陷进行表征. XRD分析表明: 所制备的铝纳米晶的晶粒度为48 nm. PALS分析表明: 铝纳米晶的微观缺陷主要为类空位以及空位团, 而微孔洞很少; 短寿命τ1, 中间寿命τ2以及其对应的强度I1, I2随压强变化而呈现阶段性变化; 压制压强(P)低于0.39 GPa时制得的纳米晶空位团随压强的增加而逐渐转变为类空位; 0.39 GPa ≤ P≤ 0.72 GPa 时, 各类缺陷发生消除; P≥ 0.72 GPa时, 各类缺陷进一步发生消除. 随压强的提高, 铝纳米晶的密度增加, 其显微硬度也明显增高.

English Abstract

参考文献 (21)

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