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利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度

张国平 郑无敌 张覃鑫 彭惠民 邵 平 易 葵 林尊琪 王 琛 王 伟 孙今人 方智恒 吴 江 傅思祖 马伟新 顾 援 王世绩 王占山 王洪昌 周 斌 陈玲燕

利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度

张国平, 郑无敌, 张覃鑫, 彭惠民, 邵 平, 易 葵, 林尊琪, 王 琛, 王 伟, 孙今人, 方智恒, 吴 江, 傅思祖, 马伟新, 顾 援, 王世绩, 王占山, 王洪昌, 周 斌, 陈玲燕
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出版历程
  • 收稿日期:  2004-03-04
  • 修回日期:  2004-05-15
  • 刊出日期:  2005-01-19

利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度

  • 1. (1)北京应用物理与计算数学研究所,北京8009信箱,北京 100088; (2)上海光学精密机械研究所,上海800-211信箱,上海 201800; (3)上海激光等离子体研究所,上海800-229信箱,上海 201800; (4)上海市同济大学物理系,上海 200092
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:69989801)和国家高技术惯性约束聚变基金(批准号:863-804-7 -3)资助的课题.

摘要: x射线激光探针干涉方法是诊断高温高密度激光等离子体电子密度等信息的重要工具.利用神光Ⅱ装置输出激光驱动的类镍-银x射线激光作为探针,成功地进行了马赫-曾德尔干涉法诊断实验,获得了清晰的包含等离子体信息的动态干涉条纹图像,并据此给出了待测C8H8等离子体临界面附近电子密度的空间分布.

English Abstract

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