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非均匀缺陷环对微波左手材料的影响

罗春荣 康 雷 赵 乾 付全红 宋 娟 赵晓鹏

非均匀缺陷环对微波左手材料的影响

罗春荣, 康 雷, 赵 乾, 付全红, 宋 娟, 赵晓鹏
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出版历程
  • 收稿日期:  2004-07-29
  • 修回日期:  2004-11-03
  • 刊出日期:  2005-02-05

非均匀缺陷环对微波左手材料的影响

  • 1. 西北工业大学电流变技术研究所,西安 710072
    基金项目: 

    国家杰出青年科学基金 (批准号:50025207)、国家自然科学基金 (批准号:50272054)和国 家重点基础研究发展规划(批准号:2004CB719805)资助的课题.

摘要: 以金属铜六边形开口谐振环(SRRs)与金属铜线的组合为结构单元,研究了三维左手材料中的 缺陷效应. 利用电路板刻蚀技术制备了左手材料样品,采用波导法测量了SRRs构成的点缺陷 和线缺陷对左手材料X波段(8—12 GHz)微波透射行为的影响. 实验结果表明,引入不同尺 寸SRRs构成的点缺陷,材料谐振峰强度下降,最多达6 dB,相当于原来的186%,谐振频率 移动,通频带宽在630—720 MHz范围变化;引入不同尺寸SRRs构成三种取向的线缺陷时,材 料谐振峰强度下降,最多达11 dB,相当于原来的34

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