搜索

文章查询

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

含双负缺陷的一维光子晶体耦合腔的杂质带特性

江海涛 董海霞 杨成全 石云龙

含双负缺陷的一维光子晶体耦合腔的杂质带特性

江海涛, 董海霞, 杨成全, 石云龙
PDF
导出引用
导出核心图
计量
  • 文章访问数:  3652
  • PDF下载量:  1222
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2005-08-30
  • 修回日期:  2005-11-12
  • 刊出日期:  2006-06-20

含双负缺陷的一维光子晶体耦合腔的杂质带特性

  • 1. (1)同济大学波耳固体物理研究所,上海 200092; (2)雁北师范学院固体物理研究所,山西大同 037009; (3)雁北师范学院固体物理研究所,山西大同 037009;同济大学波耳固体物理研究所,上海 200092
    基金项目: 

    山西省留学回国人员科研资助项目(批准号:2005063)和山西省高科技开发项目(批准号:2002052)资助的课题.

摘要: 利用转移矩阵方法研究了含双负缺陷的一维光子晶体耦合腔的透射谱.计算结果表明,如果改变缺陷的折射率,缺陷模之间的耦合作用将发生改变,使得能隙中的杂质带也随之改变.若这个折射率取适当值,则可以在禁带中同时出现几个尖锐的透射峰和较宽的通带,这种结构可同时用于多通道窄带滤波和宽带滤波.

English Abstract

目录

    /

    返回文章
    返回