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等离子体电解氧化过程中单个稳态微放电的热效应研究

蔡启舟 魏伯康 王立世 潘春旭

等离子体电解氧化过程中单个稳态微放电的热效应研究

蔡启舟, 魏伯康, 王立世, 潘春旭
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出版历程
  • 收稿日期:  2006-11-20
  • 修回日期:  2006-12-20
  • 刊出日期:  2007-09-20

等离子体电解氧化过程中单个稳态微放电的热效应研究

  • 1. (1)华中科技大学材料科学与工程学院,武汉 430074; (2)武汉大学物理科学与技术学院,武汉 430072
    基金项目: 

    描述此技术的名称有很多,其中重要的包括等离子体电解氧化(plsma electrolytic oxidation)、微弧氧化(microarc oxidation)、阳极火花沉积(anodic spark deposition),等离子体阳极氧化(plasma anodizing).我们认为这些术语在含义上其实是有所区别的,它们往往用于描述U-t曲线中不同的电压区间,本文叙述中均采用等离子体电解氧化(PEO).

摘要: 详细回顾了有关等离子体电解氧化过程中单个稳态微放电热效应研究的现状;提出了处理过程中电解液/基体界面上离散气泡类型和数量上的变化造成了微放电外观的演化.基于微放电的圆柱形通道模型,并借鉴点热源的传热公式,估算了发生在通道内部及放电衰退过程中毗邻膜层的温度场,为膜层中存在的物相种类(MgAl2O4,Mg2SiO4等)及晶态类型提供了初步的理论分析.

English Abstract

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