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赝二元固溶体TbGa1-xGex(0≤x≤0.4)的结构与磁性

张继业 骆 军 梁敬魁 纪丽娜 刘延辉 李静波 饶光辉

赝二元固溶体TbGa1-xGex(0≤x≤0.4)的结构与磁性

张继业, 骆 军, 梁敬魁, 纪丽娜, 刘延辉, 李静波, 饶光辉
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出版历程
  • 收稿日期:  2008-03-31
  • 修回日期:  2008-05-13
  • 刊出日期:  2008-05-05

赝二元固溶体TbGa1-xGex(0≤x≤0.4)的结构与磁性

  • 1. 中国科学院物理研究所北京凝聚态物理国家实验室,北京 100190
    基金项目: 

    国家重点基础研究发展计划(973)项目(批准号:2006CB601101)资助的课题.

摘要: 采用电弧熔炼法在高纯氩气保护下合成了一系列TbGa1-xGex(0≤x≤0.4)样品. X射线粉末衍射数据表明,样品均为正交晶系的CrB型结构,空间群为Cmcm. TbGa1-xGex化合物的晶格常数随Ge含量的增加而线性减小,TbGa和TbGe赝二元系在0≤x≤0.4范围内形成固溶体. 化合物的顺磁居里温度以及有效磁矩由热磁测量结果确定. 相变温度由交流磁化率的测量获得. 随Ge含量的增加,化合物的相变温度单调下降. 变温X射线粉末衍射实验表明,x=0.2和0.3的样品在110—273K范围内无结构相变.

English Abstract

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