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薄膜厚度对La1.85Sr0.15CuO4薄膜结构和超导电性的影响

祖 敏 张鹰子 闻海虎

薄膜厚度对La1.85Sr0.15CuO4薄膜结构和超导电性的影响

祖 敏, 张鹰子, 闻海虎
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出版历程
  • 收稿日期:  2008-04-22
  • 修回日期:  2008-05-12
  • 刊出日期:  2008-11-20

薄膜厚度对La1.85Sr0.15CuO4薄膜结构和超导电性的影响

  • 1. 中国科学院物理研究所超导国家重点实验室,北京 100190
    基金项目: 

    国家重点基础研究发展计划(973)项目(批准号:2006CB601000,2006CB921802)资助的课题.

摘要: 使用直流同轴磁控溅射法,在SrTiO3(STO)衬底上成功制备出c取向的La1.85Sr0.15CuO4(LSCO)超导薄膜.通过电输运测量系统和X射线衍射仪研究了薄膜厚度对LSCO(x=0.15)薄膜电学性质和晶体结构的影响.实验证明随着膜厚增加,(006)衍射峰的半高宽(Full Width at Half Maximum,FWHM)逐渐减小,薄膜的取向性增强,与此同时,薄膜的超导转变温

English Abstract

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