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质子辐照对纯铝薄膜微观结构的影响

范鲜红 陈 波 关庆丰

质子辐照对纯铝薄膜微观结构的影响

范鲜红, 陈 波, 关庆丰
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出版历程
  • 收稿日期:  2007-04-12
  • 修回日期:  2007-07-17
  • 刊出日期:  2008-03-20

质子辐照对纯铝薄膜微观结构的影响

  • 1. (1)江苏大学材料学院,镇江 212013; (2)中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室,长春 130033; (3)中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室,长春 130033;中国科学院研究生院,北京 100049
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:50671042)和中国科学院创新基金资助的课题.

摘要: 利用透射电子显微镜(TEM)详细分析了不同剂量的质子辐照纯铝薄膜样品的微观结构, 质子的能量E=160 keV.实验表明,质子辐照能够在Al薄膜中诱发空位位错圈,在实验范围内,位错密度随辐照剂量的增加而增加;质子辐照在1×1011—4×1011/mm2范围内随辐照剂量的增加,位错圈数量密度以及位错圈尺寸都随之增加.在较高剂量6×1011/mm2辐照下,位错圈数量密度减小,但其尺寸显著

English Abstract

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