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新型贮存式氧化物阴极寿命机理的初步探讨

王小霞 廖显恒 罗积润 赵青兰 张晓伟

新型贮存式氧化物阴极寿命机理的初步探讨

王小霞, 廖显恒, 罗积润, 赵青兰, 张晓伟
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出版历程
  • 收稿日期:  2008-03-26
  • 修回日期:  2008-08-27
  • 刊出日期:  2009-01-05

新型贮存式氧化物阴极寿命机理的初步探讨

  • 1. 中国科学院电子学研究所中国科学院高功率微波源与技术重点实验室,北京 100190
    基金项目: 

    国家自然科学基金 (批准号:50702059)资助的课题.

摘要: 对一种新型贮存式氧化物阴极及一种普通氧化物阴极进行了寿命实验,采用XPS分析技术对这两种阴极寿命中不同涂层深度的Ba浓度进行对比分析,结合新型贮存式阴极结构及贮存发射材料的性质对这种阴极的寿命机理进行了探讨.结果表明,新型贮存式氧化物阴极的寿命是普通氧化物阴极的7倍,同时发现新型贮存式氧化物阴极涂层深处保持稳定Ba浓度是其具有长寿命的关键.

English Abstract

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