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基于布里渊区谱的二维光子晶格线性缺陷模式分析

刘圣 张鹏 肖发俊 甘雪涛 赵建林

基于布里渊区谱的二维光子晶格线性缺陷模式分析

刘圣, 张鹏, 肖发俊, 甘雪涛, 赵建林
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出版历程
  • 收稿日期:  2008-11-11
  • 修回日期:  2008-12-16
  • 刊出日期:  2009-08-20

基于布里渊区谱的二维光子晶格线性缺陷模式分析

  • 1. 西北工业大学理学院光信息科学与技术研究所,陕西省光信息技术重点实验室,西安 710072
    基金项目: 

    西北工业大学基础研究基金和西北工业大学博士论文创新基金(批准号:CX200514)资助的课题.

摘要: 结合均匀光子晶格的衍射关系和晶格中正负缺陷的布里渊区谱特性,探讨了光诱导二维光子晶格中线性缺陷模式的形成条件,对布里渊区中各点的缺陷模式进行了模拟分析,并得到了光子带隙结构中“嵌入点”X1点的正、负缺陷模式.结果表明:对于二维缺陷,只有当衍射关系曲面中沿两个正交的横向波矢方向同时为正常(反常)衍射的区域才能存在正(负)缺陷模式;而对于一维缺陷,只要在一个横向波矢方向上存在正常(反常)衍射的区域就可以支持正(负)缺陷模式,因此在某些特殊点处,正和负的缺陷模式可以同时存在.X1点正缺陷模式的存在预示着自聚焦非线性同样可以支持带内孤子.研究结果有助于对光子晶格中晶格孤子(特别是带内孤子)的理解和进一步研究.

English Abstract

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