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Fe/ZnO (0001)体系界面相互作用中薄膜厚度效应的光电子能谱研究

张旺 徐法强 王国栋 张文华 李宗木 王立武 陈铁锌

Fe/ZnO (0001)体系界面相互作用中薄膜厚度效应的光电子能谱研究

张旺, 徐法强, 王国栋, 张文华, 李宗木, 王立武, 陈铁锌
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  • 利用同步辐射光电子能谱(SRPES)和X射线光电子能谱(XPS)技术,系统研究了室温下Fe/ZnO界面形成过程中Fe薄膜与氧结尾的ZnO(000 1 )衬底之间的相互作用,结果显示初始沉积的Fe明显被表面氧氧化为Fe2+离子,在Fe覆盖度为0—3 nm的范围内,分别观察到与界面电荷传输、化学反应以及薄膜磁性相关的三个有意义的临界厚度,这一结果将有助于基于Fe/ZnO界面的相关器件的设计和研发.
    • 基金项目: 国家自然科学基金(批准号:10775126,10975138)资助的课题.
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出版历程
  • 收稿日期:  2010-04-30
  • 修回日期:  2010-05-13
  • 刊出日期:  2011-01-15

Fe/ZnO (0001)体系界面相互作用中薄膜厚度效应的光电子能谱研究

  • 1. 中国科学技术大学国家同步辐射实验室,核科学与技术学院,合肥 230029
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:10775126,10975138)资助的课题.

摘要: 利用同步辐射光电子能谱(SRPES)和X射线光电子能谱(XPS)技术,系统研究了室温下Fe/ZnO界面形成过程中Fe薄膜与氧结尾的ZnO(000 1 )衬底之间的相互作用,结果显示初始沉积的Fe明显被表面氧氧化为Fe2+离子,在Fe覆盖度为0—3 nm的范围内,分别观察到与界面电荷传输、化学反应以及薄膜磁性相关的三个有意义的临界厚度,这一结果将有助于基于Fe/ZnO界面的相关器件的设计和研发.

English Abstract

参考文献 (30)

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