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c向静电场作用下α-LiIO3单晶的喇曼谱“串线”和谱线强度改变的机理

杨华光 李晨曦 许政一

c向静电场作用下α-LiIO3单晶的喇曼谱“串线”和谱线强度改变的机理

杨华光, 李晨曦, 许政一
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出版历程
  • 收稿日期:  1982-08-23
  • 刊出日期:  1983-02-05

c向静电场作用下α-LiIO3单晶的喇曼谱“串线”和谱线强度改变的机理

  • 1. 中国科学院物理研究所

摘要: 在c向静电场作用下,α-LiIO3单晶的喇曼谱发生“串线”,并且谱线强度改变。本文分析了这一现象的起因:由于离子输运引起的空间电荷涨落使α-LiIO3单晶的极化率张量和喇曼张量主轴方向发生涨落。前者产生o←→e光散射,散射光再发生一次喇曼散射,造成喇曼谱“串线”和谱线强度的改变;后者直接造成喇曼诺“串线”和谱线强度的变化。前者的贡献远大于后者。

English Abstract

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