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测定材料逸出功的一种新方法

杨德清 陈尔纲

测定材料逸出功的一种新方法

杨德清, 陈尔纲
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出版历程
  • 收稿日期:  1988-03-28
  • 刊出日期:  2005-07-06

测定材料逸出功的一种新方法

  • 1. 云南大学物理系

摘要: 本文报道了一种测定材料逸出功的新方法,二次电子发射-接触电位差法(简称SEE-CPD法)。用该法对Ni,Al,Au和Mo四种纯金属的逸出功进行了测量,并与Fowler等温法和Kelvin的接触电位差法比较,结果是一致的。表明SEE-CPD法在理论上是正确的,在实际应用中也是成功的。

English Abstract

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