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中能高浓度氦离子注入对钨微观结构的影响

郭洪燕 夏敏 燕青芝 郭立平 陈济红 葛昌纯

中能高浓度氦离子注入对钨微观结构的影响

郭洪燕, 夏敏, 燕青芝, 郭立平, 陈济红, 葛昌纯
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  • 采用15 keV, 剂量11017/cm2, 温度为600 ℃氦离子注入钨, 分别以块体钨研究氦离子对钨的表面损伤; 以超薄的钨透射电镜样品直接注入氦离子, 研究该条件下钨的微观结构变化, 以了解氦离子与钨的相互作用过程; 采用扫描电子显微镜、聚焦离子束扫描显微镜、透射电子显微镜、高分辨透射电子显微镜等分析手段研究氦离子注入对钨表面显微结构的影响及氦泡在钨微观结构演化中的作用.
      通信作者: 夏敏, xmdsg@ustb.edu.cn;ccge@mater.ustb.edu.cn ; 葛昌纯, xmdsg@ustb.edu.cn;ccge@mater.ustb.edu.cn
    • 基金项目: 国家重点基础研究发展计划 (批准号: 2010GB109000, 2014GB123000)资助的课题.
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    Morenzo B, Edgar B, Karin B, Luigi D P, Robin F, Luciano G, Stephan H, Claudio N, Prachai N, Aldo P, Neill T, David W 2005 Fusion Eng. Des. 75-79 1173

    [6]

    Maisonnier D, Cook I, Pierre S, Lorenzo B, Luigi D P, Luciano G, Prachai N, Aldo P 2006 Fusion Eng. Des. 81 1123

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    Lässer R, Baluc N, Boutard J L, Diegele E, Dudarev S, Gasparotto M, Möslang A, Pippan B, Riccardi B, van der Schaaf B 2007 Fusion Eng. Des. 82 511

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    Linke J, Akiba M, Bolt H, Breitbach G, Duwe R, Makhankov A, Ovchinnikov I, Rödig M, Wallura E 1997 J. Nucl. Mater. 241-243 1210

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出版历程
  • 收稿日期:  2015-09-21
  • 修回日期:  2016-01-25
  • 刊出日期:  2016-04-05

中能高浓度氦离子注入对钨微观结构的影响

    基金项目: 

    国家重点基础研究发展计划 (批准号: 2010GB109000, 2014GB123000)资助的课题.

摘要: 采用15 keV, 剂量11017/cm2, 温度为600 ℃氦离子注入钨, 分别以块体钨研究氦离子对钨的表面损伤; 以超薄的钨透射电镜样品直接注入氦离子, 研究该条件下钨的微观结构变化, 以了解氦离子与钨的相互作用过程; 采用扫描电子显微镜、聚焦离子束扫描显微镜、透射电子显微镜、高分辨透射电子显微镜等分析手段研究氦离子注入对钨表面显微结构的影响及氦泡在钨微观结构演化中的作用.

English Abstract

参考文献 (20)

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