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Cr二维单层薄片中Jahn-Teller效应的第一性原理研究

张薇 陈凯彬 陈震东

Cr二维单层薄片中Jahn-Teller效应的第一性原理研究

张薇, 陈凯彬, 陈震东
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出版历程
  • 收稿日期:  2018-09-07
  • 修回日期:  2018-10-01

Cr二维单层薄片中Jahn-Teller效应的第一性原理研究

  • 1. 福建师范大学物理与能源学院, 福建省量子调控与新能源材料重点实验室, 福州 350117;
  • 2. 福建省半导体光电材料及其高效转换器件协同创新中心, 厦门 361005
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:11504051)和福建省杰出青年科学基金(批准号:2018J06001)资助的课题.

摘要: 采用基于密度泛函理论的第一性原理计算,本文对Cr单层薄片的一系列二维结构(长方、正方、六角、斜方和中心长方晶格)进行了结构稳定性和电子性质研究.结果表明,在Cr的二维体系中,对称性较低的斜方晶格和中心长方晶格是稳定的,对称性较高的正方和六角晶格是不稳定的,而长方晶格的形成能很小.Cr二维原子薄片的两种稳定结构都是六角结构畸变的结果,六角晶格的键角减小时会形变成斜方晶格,键角增大时会形变成中心长方晶格,这是由于Jahn-Teller效应使简并能级自发破缺,继而结构产生降低对称性的形变,最终使得体系变得稳定.

English Abstract

参考文献 (18)

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