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量子阱结构的表面势对导纳谱测试结果的影响

高 琦 张胜坤 蒋最敏

量子阱结构的表面势对导纳谱测试结果的影响

高 琦, 张胜坤, 蒋最敏,
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出版历程
  • 收稿日期:  1999-09-26
  • 修回日期:  1999-11-01
  • 刊出日期:  2000-03-05

量子阱结构的表面势对导纳谱测试结果的影响

  • 1. 复旦大学应用表面物理国家重点实验室,上海 200433
    基金项目: 

    国家自然科学基金和上海市青年科技启明星计划资助的课题.

摘要: 分别对于不同覆盖层厚度的单量子阱结构的样品以及同一覆盖层厚度不同偏压下的量子阱样品进行导纳谱测试,由于覆盖层厚度的不同以及外加偏压的不同引起样品结构的电势分布发生变化,从而用导纳谱测量得到的量子阱的激活能也发生很大变化,通过变偏压的导纳谱测试,可对测试结果做出正确的判断.

English Abstract

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