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多层平板电离室测量不同材料界面剂量分布及其蒙特-卡洛模拟

张义门 郭红霞 陈雨生 吴国荣 周辉 关颖 韩福斌 龚建成

多层平板电离室测量不同材料界面剂量分布及其蒙特-卡洛模拟

张义门, 郭红霞, 陈雨生, 吴国荣, 周辉, 关颖, 韩福斌, 龚建成
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出版历程
  • 收稿日期:  2001-01-01
  • 修回日期:  2001-03-30
  • 刊出日期:  2001-08-20

多层平板电离室测量不同材料界面剂量分布及其蒙特-卡洛模拟

  • 1. (1)西安电子科技大学微电子研究所,西安710071; (2)西安电子科技大学微电子研究所,西安710071;西北核技术研究所,西安710024; (3)西北核技术研究所,西安710024

摘要: 研究设计了多层平板铝电离室.用该电离室测量了30—100keV宽谱同步辐射X射线在Kovar/Au/Al,Pb/Al,Ta/Al界面附近的辐射剂量梯度分布,给出了不同材料界面剂量增强因子(dose enhancement fctor)(DEF).理论上用蒙特卡洛粒子输运方法模拟计算了实测模型下的不同材料的界面剂量增强因子,实验结果与理论模拟符合很好.为研究不同材料的剂量增强提供了理论和实验手段

English Abstract

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