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有自吸收现象时谱线强度与物质浓度的关系

何怡贞 徐升美

有自吸收现象时谱线强度与物质浓度的关系

何怡贞, 徐升美
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出版历程
  • 收稿日期:  1957-05-24
  • 刊出日期:  1958-01-20

有自吸收现象时谱线强度与物质浓度的关系

  • 1. 中国科学院金属研究所

摘要: 谱线强度(I)与物质浓度(C)之间的定量关系是定量光谱分析的物理基础。由于实际光源中的谱线或多或少地都有自吸收现象,所以在实际情形下,I与C的关系是较为复杂的。本文中应用迁移取样法进行铸铁中的硅的光谱分析,选择了适当的条件,使Si 2516多重谱线系中的Si 2519线在光源中不发生自吸收,因而可以用它的强度代表光源中的物质浓度,同时测定了多重谱线系中发生自吸收最严重的Si 2516线的定标曲线斜度b与物质浓度C的关系(b=klogC+β+1),从而得出I与C的关系式如下:logI=k/2(logC)2+(β+1)logC+α,这里β与α是试验条件下的两个常数;k是b与logI2519的关系直线的斜度。在理想的情形,当谱线没有自吸收时,b=1,k=0,所以logI与logC之间便有直线的关系;当谱线有自吸收时,谱线的强度与物质的浓度有抛物线的关系。这个关系式所描述的与在较大浓度范围内一般实验中所观察的一致。

English Abstract

参考文献 (1)

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