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层状结构铁电材料热压择优取向度的X射线测定法

郭常霖 吴毓琴

层状结构铁电材料热压择优取向度的X射线测定法

郭常霖, 吴毓琴
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  • 本文提出了层状结构铁电陶瓷经热压后材料择优取向度的定义和X射线测定方法。只需测定任一或数条(00l)衍射线加压前后衍射强度比值,即可求出取向度。用含铋层优化合物pbBi4Ti4O15作为测定实例,证明了这一方法的适用性。
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出版历程
  • 收稿日期:  1980-03-20
  • 刊出日期:  1980-06-05

层状结构铁电材料热压择优取向度的X射线测定法

  • 1. 中国科学院上海硅酸盐研究所

摘要: 本文提出了层状结构铁电陶瓷经热压后材料择优取向度的定义和X射线测定方法。只需测定任一或数条(00l)衍射线加压前后衍射强度比值,即可求出取向度。用含铋层优化合物pbBi4Ti4O15作为测定实例,证明了这一方法的适用性。

English Abstract

参考文献 (1)

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