搜索

文章查询

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

金属-半导体比接触电阻的圆环结构测试法

朱德光 吴鼎芬

金属-半导体比接触电阻的圆环结构测试法

朱德光, 吴鼎芬
PDF
导出引用
导出核心图
计量
  • 文章访问数:  2576
  • PDF下载量:  704
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1986-08-04
  • 刊出日期:  2005-03-18

金属-半导体比接触电阻的圆环结构测试法

  • 1. 中国科学院上海冶金研究所

摘要: 本文中提出了一种测量金属-半导体欧姆接触比接触电阻的新方法-圆环结构测试法。导出了适用于半无限大和有一定厚度的半导体材料的比接触电阻表达式,用此方法进行实验测量和计算,所得结果与文献结果符合得很好。

English Abstract

目录

    /

    返回文章
    返回